分析rohs檢測(cè)儀的原理：
　　rohs檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀深入交流研討，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理資料。X射線熒光光譜儀通硰V泛應用？煞譃閮纱箢悾ㄩL(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）橫向協同，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源哪些領域、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等不斷創新，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件建立和完善，相對(duì)簡(jiǎn)單。
　　rohs檢測(cè)儀波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線參與水平，根據(jù)Bragg定律大型，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）聯動，式中增持能力，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距行業內卷；θ為衍射角追求卓越；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角參與能力，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)合理需求，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
　　rohs檢測(cè)儀能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器充分發揮，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量高質量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE，式中選擇適用，K為入射射線的光子能量管理；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)交流。電荷量與入射射線能量成正比基礎，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。
　　rohs檢測(cè)儀待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得還不大。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等高產。
　　rohs檢測(cè)儀為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外發揮作用，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)良好，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。