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技術(shù)文章

ROHS測(cè)試儀主流檢測(cè)技術(shù)的原理與應(yīng)用

技術(shù)文章
 ROHS 測(cè)試儀是用于檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品中鉛(Pb)快速增長、鎘(Cd)開放以來、汞(Hg)占、六價(jià)鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBB)提供了有力支撐、多溴二苯醚(PBDE)等有害物質(zhì)含量的專業(yè)設(shè)備激發創作,其工作原理基于不同檢測(cè)技術(shù)對(duì)元素或化合物的特性分析,以下從核心技術(shù)原理進一步意見、檢測(cè)流程及典型應(yīng)用場(chǎng)景展開說明:

主流檢測(cè)技術(shù)的原理與應(yīng)用

1. X 射線熒光光譜法(XRF)—— 元素定性定量分析

  • 原理
    • 利用 X 射線管發(fā)射的高能 X 射線(如 Mo重要的意義、Rh 靶材產(chǎn)生的特征 X 射線)照射樣品,激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子使其躍遷等多個領域,外層電子填補(bǔ)空位時(shí)釋放出具有特定能量的熒光 X 射線(即特征 X 射線)。
    • 探測(cè)器(如硅半導(dǎo)體探測(cè)器)收集熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度產品和服務,通過與標(biāo)準(zhǔn)譜庫(kù)比對(duì)應用擴展,確定元素種類(能量特征)及含量(強(qiáng)度與含量正相關(guān))。
  • 應(yīng)用:常用于 Pb增多、Cd活動上、Hg、Cr 等重金屬元素的快速篩查進一步推進,檢測(cè)限可達(dá) ppm 級(jí)(如 Cd≤50ppm)導向作用,但無法直接區(qū)分 Cr6 + 與 Cr3+,也不能檢測(cè)有機(jī)溴化物(PBB應用的選擇、PBDE)十大行動。

2. 氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)(GC-MS)—— 有機(jī)化合物分析

  • 原理
    • 氣相色譜(GC)分離:樣品經(jīng)前處理(如索氏提取、微波輔助萃缺尘跋?。┖缶C合措施,有機(jī)組分在高溫汽化后被載氣(氦氣)帶入色譜柱,根據(jù)各組分在固定相和流動(dòng)相中的分配系數(shù)差異實(shí)現(xiàn)分離自然條件。
    • 質(zhì)譜(MS)定性定量:分離后的組分進(jìn)入質(zhì)譜儀設計標準,通過電子轟擊(EI 源)或化學(xué)電離(CI 源)產(chǎn)生離子碎片,質(zhì)譜檢測(cè)器根據(jù)質(zhì)荷比(m/z)和離子強(qiáng)度繪制質(zhì)譜圖互動互補,與 NIST 譜庫(kù)比對(duì)確認(rèn)化合物結(jié)構(gòu)(如 PBB發揮重要帶動作用、PBDE 的溴代程度),并通過峰面積計(jì)算含量意料之外。
  • 應(yīng)用:專用于 PBB文化價值、PBDE 等多溴化合物的檢測(cè),檢測(cè)限可達(dá) 0.1ppm 以下系統,可區(qū)分不同溴代物的同分異構(gòu)體非常重要。

3. 電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)—— 痕量元素分析

  • 原理
    • 樣品經(jīng)酸消解(如 HNO?+HF)轉(zhuǎn)化為液態(tài)溶液,通過霧化器形成氣溶膠空間廣闊,進(jìn)入電感耦合等離子體(ICP)的高溫離子源(7000℃左右)營造一處,被電離為帶電離子改革創新。
    • 離子經(jīng)質(zhì)譜儀的質(zhì)量分析器(如四極桿)按質(zhì)荷比分離,檢測(cè)器(如電子倍增器)記錄離子強(qiáng)度取得顯著成效,與標(biāo)準(zhǔn)溶液比對(duì)后定量元素含量(如 Pb交流等、Cd、Hg)規劃。
  • 應(yīng)用:適用于痕量重金屬的精確分析提高,檢測(cè)限可達(dá) ppb 級(jí)(如 Hg≤1ppb),尤其適合液體樣品(如鍍層溶液)或復(fù)雜基質(zhì)樣品(如聚合物)的元素定量進入當下。

4. 紫外 - 可見分光光度法(UV-Vis)—— 六價(jià)鉻(Cr6+)專屬檢測(cè)

  • 原理
    • 在酸性條件下(pH=2.8±0.2)紮實,Cr6 + 與二苯碳酰二肼(DPC)反應(yīng)生成紫紅色絡(luò)合物,其在 540nm 波長(zhǎng)處有最大吸收峰新體系。
    • 通過紫外 - 可見分光光度計(jì)測(cè)量吸光度投入力度,根據(jù)朗伯 - 比爾定律(A=εbc)計(jì)算 Cr6 + 濃度,檢測(cè)限通常為 0.1ppm不難發現。
  • 應(yīng)用:唯一能直接區(qū)分 Cr6 + 與 Cr3 + 的方法貢獻法治,常用于金屬鍍層、涂層中 Cr6 + 的檢測(cè)發展需要。
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