優(yōu)點:a)分析速度高長遠所需。測定用時與測定精密度有關求索，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素規模。b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關穩定發展，而且跟固體、粉末聯動、液體及晶質增持能力、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象行業內卷。特別是在超軟X射線范圍內影響，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定技術節能。c)非破壞分析指導。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象國際要求。同一試樣可反復多次測量流動性，結果重現性好鍛造。d)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析持續創新。e) 分析精密度高改善。f) 制樣簡單，固體協調機製、粉末信息化、液體樣品等都可以進行分析。缺點：a）難于作分析實踐者，故定量分析需要標樣取得明顯成效。b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響數據。X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）創新的技術。