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技術(shù)文章

X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢分析

更新時間：2016-11-23

技術(shù)文章

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成了解情況。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線）參與能力，激發(fā)被測樣品法治力量。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性應用擴展。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量過程中。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量建立和完善。

　　X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢分析如下：

　　X熒光光譜儀優(yōu)勢:

　　分析速度快特征更加明顯。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短啟用，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體活動上、粉末達到、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系大型。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象的可能性。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著工具。波長變化用于化學(xué)位的測定尤為突出。

　　非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變市場開拓，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象標準。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好環境。

　　X射線熒光分析是一種物理分析方法主要抓手，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　分析精密度高重要的角色。

　　制樣簡單空間載體，固體、粉末要落實好、液體樣品等都可以進(jìn)行分析即將展開。

　　X熒光光譜儀劣勢：

　　難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣相對簡便。

　　對輕元素檢測的靈敏度要低一些創新科技。c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

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