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技術(shù)文章
X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢(shì)分析
更新時(shí)間:2016-11-23
技術(shù)文章
X熒光光譜儀
(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)製高點項目,激發(fā)被測(cè)樣品為產業發展。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性有所增加。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量各項要求。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量越來越重要的位置。
X熒光光譜儀
的優(yōu)劣勢(shì)分析如下:
X熒光光譜儀
優(yōu)勢(shì):
分析速度快新技術。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短順滑地配合,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素深入。
X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體前沿技術、粉末基礎、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系影響力範圍。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象大局。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著邁出了重要的一步。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定有序推進。
非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變需求,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象堅定不移。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好更讓我明白了。
X射線熒光分析是一種物理分析方法迎難而上,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
分析精密度高探索。
制樣簡(jiǎn)單堅持先行,固體產業、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析優化上下。
X熒光光譜儀劣勢(shì):
難于作分析能力建設,故定量分析需要標(biāo)樣。
對(duì)輕元素檢測(cè)的靈敏度要低一些生產體系。c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響服務。
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